2019年全國電子顯微學學術年會在合肥舉行

提供來源:上海百賀日期：2019年10月10日

賽默飛全國電鏡年會

資料來源：賽默飛公眾號

隨著研究人員對材料微觀結(jié)構(gòu)的深入研究，他們越發(fā)需要借助儀器設備來獲得高質(zhì)量的電鏡圖像，以及同類產(chǎn)品中可視化和分析工具來得到高度準確的數(shù)據(jù)。簡而言之，研究者們需要的是值得信賴的分析結(jié)果。

2019年全國電子顯微學學術年會于10月15日-19日在合肥舉辦。屆時，針對前述需求，賽默飛世爾科技會分享一系列解決方案，保證讓您眼前一亮。從掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)系列產(chǎn)品到配套的軟件系統(tǒng)，賽默飛旨在幫您攻克研究過程中較為挑戰(zhàn)的難題。無論是化學分析、元素分析、機械分析或電子分析，賽默飛的高分辨率成像和分析工具都將滿足您所有的精度要求。

在即將到來的電鏡年會上，我們將進行一系列現(xiàn)場演示和展位展示，分享行業(yè)的解決方案。激動人心的一周活動主要包括：

No.1

現(xiàn)場演示

大會期間，8場演示，讓您深度了解賽默飛新一代電鏡解決方案，包括：Spectra S/TEM, ColorSEM技術, 新一代多源等離子體FIB技術，加裝雙X射線能譜儀的掃描透射電鏡，和生命科學領域全新自動化冷凍透射電鏡、冷凍斷層掃描、單顆粒分析技術。

No.2

午餐講座

為感謝各位顯微工作者的兢業(yè)奉獻，我們還將于10月16日-18日每天中午在會議酒店舉辦午餐會。屆時，我們將發(fā)布幾個新的解決方案，其一將有助于加快當前的病理認知和藥物研發(fā)進程，其二將促進材料在原子水平上的結(jié)構(gòu)表征，其三是能從電鏡圖像中快速獲取更多數(shù)據(jù)的新方法。請持續(xù)關注，拭目以待。

No.3

展位展示

讓您全方面觸及領域前沿，現(xiàn)場演示將紛至沓來，囊括Amira和Avizo軟件演示等。