BAHENS儀器為您提供全自動(dòng)顆粒度大小分析系統(tǒng)詳細(xì)的方案介紹：
全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)
1、 高整合的自動(dòng)系統(tǒng)
整合進(jìn)口顯微鏡、進(jìn)口數(shù)碼設(shè)備、進(jìn)口XYZ-3軸電動(dòng)掃描臺(tái)；項(xiàng)目化管理、流程化操作。
2、 自動(dòng)掃描
自動(dòng)掃描整個(gè)樣品。支持多種掃描方式：矩形區(qū)域、圓形區(qū)域等；；支持異形樣品掃描；滿足各種不同標(biāo)準(zhǔn)、不同用戶的檢測(cè)需要，大大提高工作效率。
3、 自動(dòng)聚焦
支持多種聚焦模式：補(bǔ)?聚焦、手動(dòng)聚焦、EFI聚焦等。采用新的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像。
4、 自動(dòng)拍照
自動(dòng)拍照、照片自動(dòng)保存，進(jìn)度狀態(tài)實(shí)時(shí)可見(jiàn)；照片信息存入數(shù)據(jù)庫(kù)，方便查詢；提供視場(chǎng)圖片瀏覽功能，可以實(shí)現(xiàn)視場(chǎng)定位回溯、重新拍照等功能。
5、 多種檢查方法
支持定義顆粒分類標(biāo)準(zhǔn)，可以根據(jù)用戶自定義檢查分類數(shù)據(jù)，很好的兼容了廠內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、自定義標(biāo)準(zhǔn)等情況。
6、 顆粒自動(dòng)識(shí)別與分類
系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒面積、直徑、圓氐榷嘀植問(wèn)?。同时支硴磁粒编?拆分/重組；支持陰影校正、提高顆粒識(shí)別精度；支持幀間顆粒探測(cè)技術(shù)，保證顆粒尺寸準(zhǔn)確。提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具：MAP圖、顆粒列表、顆粒統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等。自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒尺寸分布和空間分布。
7、 專業(yè)的孔隙分析報(bào)告
專業(yè)的顆粒分析報(bào)告，根據(jù)不同標(biāo)準(zhǔn)生成對(duì)應(yīng)的專業(yè)報(bào)告；支持報(bào)告的個(gè)性化設(shè)計(jì)。
全自動(dòng)顆粒度大小分析系統(tǒng)的組成及應(yīng)用>圍
1、 全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng) Automatic Analysis System
全自動(dòng)的顆粒分析系統(tǒng)是采用圖像分析法進(jìn)行顆粒的分析與統(tǒng)計(jì)?？捎糜诟鞣N顆粒試樣的分析統(tǒng)計(jì)。例如：粉末冶金、涂料顆粒、油液中的顆粒等等。
系統(tǒng)由多種自動(dòng)控制部分組成。包括：光學(xué)顯微鏡、3軸電動(dòng)臺(tái)（支持多種高精度電動(dòng)臺(tái)）、電動(dòng)轉(zhuǎn)盤控制器、自動(dòng)拍照系統(tǒng)、全自動(dòng)顆粒分析軟件等。
全自動(dòng)的檢驗(yàn)分析過(guò)程：自動(dòng)掃描整個(gè)試樣、自動(dòng)拍照，顆粒自動(dòng)識(shí)別、統(tǒng)計(jì)、分析，自動(dòng)生成專業(yè)分析報(bào)告；
高精度電動(dòng)臺(tái)
2、 自動(dòng)掃描樣品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area
支持多種掃描方式：矩形區(qū)域、圓形區(qū)域等；滿足各種應(yīng)用需要；
3、 多種自動(dòng)聚焦算法 Multiple Automatic Focus Algorithm
支持多種聚焦模式：補(bǔ)償聚焦、跟蹤聚焦、手動(dòng)聚焦、EFI聚焦等。采用新的聚焦算法，保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像；
4、 自動(dòng)拍照、視場(chǎng)自動(dòng)定位 Automatic Camera and Field Position
采集過(guò)程自動(dòng)拍照、照片自動(dòng)保存，進(jìn)度狀態(tài)實(shí)時(shí)可見(jiàn)；照片信息存入數(shù)據(jù)庫(kù)，方便查詢；
提供視場(chǎng)圖片瀏覽功能，可以實(shí)現(xiàn)視場(chǎng)定位回溯、重新拍照等功能。
5、 多種檢測(cè)方法 Multi Testing Standard
符合GB/T 15445-1995標(biāo)準(zhǔn)等常用顆粒粒度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)支持多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
可以根據(jù)用戶自定義檢查分類數(shù)據(jù)，很好的兼容了廠內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、自定義標(biāo)準(zhǔn)等情況。
6、 顆粒自動(dòng)識(shí)別與分類
Particles Automatic Identification and Classification
系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別顆粒、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒面積、 徑、圓度等二十余種參數(shù)。同時(shí)支持顆粒編輯/拆分/重組；支持陰影校正、提高顆粒識(shí)別精度；支持幀間顆粒探測(cè)技術(shù)，保證顆粒尺寸準(zhǔn)確。提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具：MAP圖、顆粒列表、顆粒統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等。自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒尺寸分布和空間分布。
7、 專業(yè)顆粒分析報(bào)告 Professional Inclusion Report
專業(yè)的顆粒分析報(bào)告，根據(jù)不同標(biāo)準(zhǔn)生成對(duì)應(yīng)的專業(yè)報(bào)告；支持報(bào)告的個(gè)性化設(shè)計(jì)。
