主要特點:

高分辨觀察

利用金顆粒保證0.144nm分辨率DF-STEM像（標準型）。

大束流分析

約為非校正的STEM探針電流的10倍，可以進行高速、高靈敏度能譜分析，可以在更短的時間內獲得元素的面分布圖，

使得檢測微量元素成為可能。簡化的操作

提供了專用的GUI自動調節(jié)球差校正器

整體的解決方案

樣品桿與日立FIB兼容，提供了納米尺度的整體解決方案，從制樣到數據獲得和分析

多種評價和分析功能可選
可同時獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像；可以配備ELV-2000型實時元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時獲得)；

可以同時觀察DF-STEM像和衍射像；可以配備超微柱頭樣品桿進行三維分析(360度旋轉)等。

應用領域:

HD-2700作為一款場發(fā)射球差校正的掃描透射電鏡，不僅具有高分辨率的圖像觀察能力，同樣具有高空間分辨率的分析能力，

配合EELS和EDS可以實現原子級元素的分析。HD-2700具有多種成像模式，可以滿足大部分樣品的觀察需求，

其中日立的SE成像模式可以獲得透射電鏡無法獲得的樣品表面的信息，同時又比普通掃描電鏡具有更高的分辨率，可以實現對樣品表面的高分辨觀察。